ভাষা নির্বাচন করুন

ট্রানজিশন মেটাল ডাইক্যালকোজেনাইড সৌর কোষের দক্ষতার সীমা বিশ্লেষণ

অতি-পাতলা টিএমডি সৌর কোষের চূড়ান্ত কর্মক্ষমতা সীমা বিশ্লেষণ, যেখানে দক্ষতা বনাম পুরুত্ব, উপাদানের গুণমান এবং উচ্চ-নির্দিষ্ট-শক্তি প্রয়োগের বিষয়গুলি অনুসন্ধান করা হয়েছে।
solarledlight.org | PDF Size: 3.2 MB
রেটিং: 4.5/5
আপনার রেটিং
আপনি ইতিমধ্যে এই ডকুমেন্ট রেট করেছেন
PDF ডকুমেন্ট কভার - ট্রানজিশন মেটাল ডাইক্যালকোজেনাইড সৌর কোষের দক্ষতার সীমা বিশ্লেষণ

সূচিপত্র

1. ভূমিকা ও সারসংক্ষেপ

এই গবেষণা মাল্টিলেয়ার (বাল্ক) ট্রানজিশন মেটাল ডাইক্যালকোজেনাইড (টিএমডি) ভিত্তিক সিঙ্গল-জাংশন সৌর কোষের মৌলিক দক্ষতার সীমা নির্ধারণ করে: MoS2, MoSe2, WS2, এবং WSe2। তাদের উচ্চ শোষণ সহগ, উপযুক্ত ব্যান্ডগ্যাপ (~১.০-২.৫ eV), এবং স্ব-প্যাসিভেটেড পৃষ্ঠের কারণে টিএমডিগুলি উচ্চ-নির্দিষ্ট-শক্তি (ওজন-প্রতি-শক্তি) ফটোভোলটেইক্সের জন্য অত্যন্ত সম্ভাবনাময়। এই গবেষণা বাস্তবিক আলোক শোষণ তথ্য এবং প্রধান অ-বিকিরণ পুনর্মিলন ক্ষতি অন্তর্ভুক্ত করে এমন একটি সম্প্রসারিত বিস্তারিত ভারসাম্য মডেল ব্যবহার করে আদর্শ শকলি-কুইসার সীমার বাইরে যায়, যা পুরুত্ব- এবং গুণমান-নির্ভর দক্ষতার সর্বোচ্চ সীমা প্রদান করে।

2. মূল পদ্ধতি ও তাত্ত্বিক কাঠামো

বিশ্লেষণটি মূলত সিলিকনের জন্য তৈরি টাইডজে-ইয়াবলোনোভিচ বিস্তারিত ভারসাম্য মডেলের একটি সম্প্রসারিত সংস্করণের উপর ভিত্তি করে।

2.1 সম্প্রসারিত বিস্তারিত ভারসাম্য মডেল

শকলি-কুইসার মডেলের মতো নয়, যা ব্যান্ডগ্যাপে একটি নিখুঁত ধাপ-ফাংশন শোষণ ধরে নেয়, এই মডেলটি উপাদান-নির্দিষ্ট, পরিমাপকৃত আলোক শোষণ বর্ণালী ($\alpha(E, d)$) ব্যবহার করে ফোটন শক্তি (E) এবং ফিল্মের পুরুত্ব (d) এর একটি ফাংশন হিসেবে। এটি আলোক-উৎপন্ন কারেন্টের সঠিক গণনা করতে সক্ষম করে।

2.2 পুনর্মিলন প্রক্রিয়ার অন্তর্ভুক্তি

মডেলটির মূল অগ্রগতি হল প্রধান অ-বিকিরণ পুনর্মিলন পথগুলির অন্তর্ভুক্তি:

  • বিকিরণ পুনর্মিলন: মৌলিক সীমা।
  • অগার পুনর্মিলন: উচ্চ বাহক ঘনত্বের পাতলা ফিল্মে তাৎপর্যপূর্ণ।
  • ত্রুটি-সহায়তাকারী শকলি-রিড-হল (এসআরএইচ) পুনর্মিলন: উপাদানের গুণমান বিবেচনায় নেওয়ার জন্য পুরুত্ব-নির্ভর সংখ্যালঘু বাহক আয়ু ($\tau_{SRH}$) এর মাধ্যমে মডেল করা হয়েছে। বিভিন্ন গুণমানের স্তর (যেমন, বর্তমান সর্বোচ্চ মানের এবং উন্নত ভবিষ্যতের উপাদানের প্রতিনিধিত্বকারী) বিবেচনা করা হয়েছে।
নেট পুনর্মিলন কারেন্ট হল এই উপাদানগুলির সমষ্টি: $J_{rec} = J_{rad} + J_{Auger} + J_{SRH}$।

3. উপাদান ব্যবস্থা ও পরামিতি

গবেষণাটি চারটি বিশিষ্ট টিএমডির উপর দৃষ্টি নিবদ্ধ করে:

  • MoS2, WS2: প্রশস্ত ব্যান্ডগ্যাপ (~১.৮-২.১ eV মাল্টিলেয়ার আকারে)।
  • MoSe2, WSe2: সংকীর্ণ ব্যান্ডগ্যাপ (~১.০-১.৬ eV মাল্টিলেয়ার আকারে)।
মূল ইনপুট পরামিতিগুলির মধ্যে রয়েছে পরীক্ষামূলকভাবে প্রাপ্ত শোষণ সহগ, সাহিত্য থেকে অনুমানকৃত অগার সহগ, এবং রিপোর্টকৃত ত্রুটি ঘনত্বের উপর ভিত্তি করে পরামিতিকৃত এসআরএইচ আয়ু। সিমুলেশনগুলি স্ট্যান্ডার্ড AM 1.5G সৌর বর্ণালীর অধীনে সম্পাদিত হয়েছে।

4. ফলাফল ও দক্ষতার সীমা

4.1 পুরুত্ব-নির্ভর দক্ষতা

মডেলটি একটি গুরুত্বপূর্ণ ট্রেড-অফ প্রকাশ করে: দক্ষতা প্রাথমিকভাবে আলোর শোষণ বৃদ্ধির কারণে পুরুত্বের সাথে বৃদ্ধি পায়, সর্বোচ্চে পৌঁছায়, এবং তারপর খুব পুরু ফিল্মের জন্য বর্ধিত বাল্ক পুনর্মিলনের (প্রধানত অগার এবং এসআরএইচ) কারণে হ্রাস পায়। বর্তমান উপাদানের গুণমান সহ WSe2 এর মতো টিএমডিগুলির জন্য, সর্বোত্তম পুরুত্ব আশ্চর্যজনকভাবে কম, প্রায় ৫০-১০০ nm

4.2 উপাদানের গুণমানের প্রভাব

এসআরএইচ পুনর্মিলন হল আজকের উপাদান দিয়ে দক্ষতা সীমিত করার প্রাথমিক কারণ। গবেষণাটি দেখায় যে বর্তমানে উপলব্ধ উপাদানের গুণমান দিয়ে, সর্বোত্তম ~৫০ nm ফিল্মের জন্য ২৩-২৫% পরিসরে সর্বোচ্চ দক্ষতা অর্জনযোগ্য। যদি এসআরএইচ আয়ু উন্নত করা যায় (ত্রুটি ঘনত্ব হ্রাস করে), দক্ষতার সীমা উল্লেখযোগ্যভাবে বৃদ্ধি পায়, কিছু উপাদানের জন্য বিকিরণ-অগার সীমার কাছাকাছি ২৮-৩০% এর কাছাকাছি পৌঁছায়।

4.3 প্রতিষ্ঠিত প্রযুক্তির সাথে তুলনা

২৫% দক্ষতা অর্জনকারী একটি ৫০ nm টিএমডি সৌর কোষের নির্দিষ্ট শক্তি বাণিজ্যিক সিলিকন, CdTe, বা CIGS প্যানেলের তুলনায় ~১০ গুণ বেশি হবে, যা সাধারণত শত শত মাইক্রন পুরু। এটি ওজন-সমালোচনামূলক প্রয়োগের জন্য টিএমডিগুলিকে অনন্য অবস্থানে রাখে।

5. মূল অন্তর্দৃষ্টি ও পরিসংখ্যানগত সারসংক্ষেপ

সর্বোচ্চ ব্যবহারিক দক্ষতা (বর্তমান গুণমান)

~২৫%

~৫০ nm ফিল্মের জন্য

সর্বোত্তম পুরুত্ব পরিসীমা

৫০ - ২০০ nm

শোষণ ও পুনর্মিলনের ভারসাম্য রক্ষা করে

নির্দিষ্ট শক্তির সুবিধা

~১০x

বনাম বাণিজ্যিক সৌর প্রযুক্তি

মূল সীমাবদ্ধ কারণ

এসআরএইচ পুনর্মিলন

উপাদানের ত্রুটি দ্বারা নির্ধারিত

মূল অন্তর্দৃষ্টি: টিএমডিগুলির উচ্চ শোষণ ক্ষমতা তাদের ন্যানোস্কেল পুরুত্বে প্রায়-সর্বোচ্চ দক্ষতায় পৌঁছাতে দেয় যেখানে পুনর্মিলন ক্ষতি এখনও নিয়ন্ত্রণযোগ্য, যা অভূতপূর্ব নির্দিষ্ট শক্তি উন্মুক্ত করে।

6. প্রযুক্তিগত বিবরণ ও গাণিতিক সূত্রায়ন

কারেন্ট-ঘনত্ব-ভোল্টেজ (J-V) বৈশিষ্ট্যটি উৎপাদন এবং পুনর্মিলনের ভারসাম্য করে গণনা করা হয়: $$J(V) = J_{ph} - J_{0,rad}[\exp(\frac{qV}{kT})-1] - J_{Auger}(V) - J_{SRH}(V)$$ যেখানে $J_{ph} = q \int_{0}^{\infty} \text{Absorptance}(E) \cdot \text{Photon Flux}_{AM1.5G}(E) \, dE$। শোষণ ক্ষমতা শোষণ সহগ থেকে প্রাপ্ত: $A(E,d) = 1 - \exp(-\alpha(E) \cdot d)$। এসআরএইচ পুনর্মিলন কারেন্ট একটি আদর্শতা ফ্যাক্টর এবং একটি আয়ু $\tau_{SRH}$ সহ স্ট্যান্ডার্ড ডায়োড সমীকরণ ব্যবহার করে মডেল করা হয়েছে যা পুরুত্বের সাথে স্কেল করতে পারে, পৃষ্ঠ/ইন্টারফেস ত্রুটিগুলি স্বীকার করে।

7. পরীক্ষামূলক ও সিমুলেশন ফলাফলের বর্ণনা

চার্ট/চিত্র বর্ণনা (সিমুলেটেড): মূল ফলাফল হল চারটি উপাদানের জন্য টিএমডি শোষকের পুরুত্ব বনাম পাওয়ার রূপান্তর দক্ষতা (PCE) দেখানো প্লটগুলির একটি সেট। প্রতিটি প্লটে বিভিন্ন উপাদানের গুণমানের স্তর (এসআরএইচ আয়ু) প্রতিনিধিত্বকারী একাধিক বক্ররেখা রয়েছে।

  • X-অক্ষ: পুরুত্ব (nm), ~১০ nm থেকে ১০ μm পর্যন্ত লগারিদমিক স্কেল।
  • Y-অক্ষ: দক্ষতা (%)।
  • বক্ররেখা: একটি "বিকিরণ+অগার সীমা" বক্ররেখা উপরের সীমা হিসেবে কাজ করে। এর নিচে, "বর্তমান গুণমান" এবং "উন্নত গুণমান" এর বক্ররেখাগুলি এসআরএইচ পুনর্মিলনের কারণে সৃষ্ট টান দেখায়। WSe2/MoSe2 এর জন্য "বর্তমান গুণমান" বক্ররেখাটি ~২৫% এ প্রায় ৫০-১০০ nm এর আশেপাশে তীব্রভাবে সর্বোচ্চে পৌঁছায়। WS2/MoS2 এর জন্য সর্বোচ্চটি প্রসারিত হয় এবং সামান্য সরে যায়।
  • মূল চাক্ষুষ উপলব্ধি: অপর্যাপ্ত শোষণের কারণে <২০ nm পুরুত্বের জন্য এবং বাল্ক পুনর্মিলনের কারণে >১ μm পুরুত্বের জন্য নাটকীয় দক্ষতা হ্রাস, যা অতি-পাতলা মিষ্টি বিন্দুকে তুলে ধরে।

8. বিশ্লেষণাত্মক কাঠামো: একটি কেস স্টাডি

কেস: সৌর কোষের জন্য একটি নতুন টিএমডি (যেমন, PtSe2) মূল্যায়ন।

  1. ইনপুট পরামিতি আহরণ: একটি পাতলা ফিল্মে এলিপসোমেট্রি বা প্রতিফলন পরিমাপের মাধ্যমে শোষণ বর্ণালী $\alpha(E)$ প্রাপ্ত করুন। টাউক প্লট থেকে ব্যান্ডগ্যাপ অনুমান করুন। অগার সহগের জন্য সাহিত্য অনুসন্ধান করুন। ফটোলুমিনেসেন্স আয়ু বা বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্যায়নের মাধ্যমে ত্রুটি ঘনত্ব পরিমাপ করে $\tau_{SRH}$ অনুমান করুন।
  2. মডেল আরম্ভকরণ: একটি গণনামূলক পরিবেশে (যেমন, SciPy সহ Python) J-V ভারসাম্য সমীকরণ কোড করুন। AM1.5G বর্ণালী সংজ্ঞায়িত করুন।
  3. সিমুলেশন সুইপ: আহরিত উপাদান পরামিতিগুলির জন্য পুরুত্বের পরিসীমা জুড়ে (যেমন, ১ nm থেকে ৫ μm) মডেলটি চালান।
  4. বিশ্লেষণ: সর্বোত্তম পুরুত্ব এবং সংশ্লিষ্ট সর্বোচ্চ PCE চিহ্নিত করুন। সংবেদনশীলতা বিশ্লেষণ করুন: $\tau_{SRH}$ ১০ গুণ উন্নত হলে দক্ষতা কীভাবে পরিবর্তিত হয়? সর্বোত্তম অবস্থানে প্রভাবশালী ক্ষয় প্রক্রিয়া কী?
  5. বেঞ্চমার্কিং: পূর্বাভাসিত সর্বোত্তম (পুরুত্ব, PCE) বিন্দুটিকে এই গবেষণাপত্র থেকে MoS2 ইত্যাদির ফলাফলের সাথে তুলনা করুন সম্ভাবনা মূল্যায়নের জন্য।
এই কাঠামোটি ফটোভোলটেইক্সের জন্য নতুন ২ডি উপাদান স্ক্রিনিংয়ের জন্য একটি পরিমাণগত রোডম্যাপ প্রদান করে।

9. প্রয়োগের সম্ভাবনা ও ভবিষ্যৎ দিকনির্দেশনা

স্বল্পমেয়াদী প্রয়োগ (উচ্চ-নির্দিষ্ট-শক্তির সুবিধা গ্রহণ):

  • এয়ারোস্পেস ও ড্রোন: উচ্চ-উচ্চতার সিউডো-স্যাটেলাইট (HAPS) এবং মনুষ্যবিহীন আকাশযানের জন্য প্রাথমিক শক্তি যেখানে ওজন সর্বাধিক গুরুত্বপূর্ণ।
  • পরিধানযোগ্য ও ইমপ্লান্টযোগ্য ইলেকট্রনিক্স: স্বাস্থ্য পর্যবেক্ষক, স্মার্ট টেক্সটাইল এবং বায়োমেডিক্যাল ডিভাইস চালানোর জন্য বায়োকম্প্যাটিবল, নমনীয় সৌর কোষ।
  • ইন্টারনেট-অফ-থিংস (IoT) সেন্সর: বিতরণকৃত, ব্যাটারি-মুক্ত সেন্সর নেটওয়ার্কের জন্য অতি-হালকা, সমন্বিত শক্তি উৎস।
ভবিষ্যতের গবেষণা ও উন্নয়ন দিকনির্দেশনা:
  • উপাদানের গুণমান: প্রাথমিক বাধা। গবেষণা বৃহৎ-ক্ষেত্র, ত্রুটি-প্রকৌশলী বৃদ্ধির (যেমন, MOCVD এর মাধ্যমে) উপর দৃষ্টি নিবদ্ধ করতে হবে যাতে $\tau_{SRH}$ কে বিকিরণ সীমার কাছাকাছি নিয়ে যাওয়া যায়, যেমন উচ্চ-গুণমানের পারভস্কাইটের সাধনায় দেখা যায়।
  • ডিভাইস আর্কিটেকচার: টিএমডিগুলিকে প্রশস্ত- বা সংকীর্ণ-ব্যান্ডগ্যাপ অংশীদার হিসেবে ট্যান্ডেম কোষ অন্বেষণ, এবং ২ডি/৩ডি হেটেরোজাংশনে সিলিকনের সাথে একীকরণ।
  • স্থায়িত্ব ও এনক্যাপসুলেশন: দীর্ঘমেয়াদী পরিবেশগত স্থায়িত্ব অধ্যয়ন এবং অতি-পাতলা, কার্যকর বাধা স্তরের উন্নয়ন।
  • স্কেল-আপ ও উৎপাদন: খরচ কমানোর জন্য গুরুত্বপূর্ণ রোল-টু-রোল বা ওয়েফার-স্কেল উৎপাদনের জন্য টিএমডি ন্যানোইলেকট্রনিক্স শিল্প থেকে শিক্ষা এবং অবকাঠামো ব্যবহার করা।

10. তথ্যসূত্র

  1. Nazif, K. N., et al. "Efficiency Limit of Transition Metal Dichalcogenide Solar Cells." arXiv preprint (2022). [এই বিশ্লেষণের প্রাথমিক উৎস]
  2. Shockley, W., & Queisser, H. J. "Detailed balance limit of efficiency of p-n junction solar cells." Journal of Applied Physics 32, 510 (1961).
  3. Tiedje, T., et al. "Limiting efficiency of silicon solar cells." IEEE Transactions on Electron Devices 31, 711 (1984).
  4. Jariwala, D., et al. "Mixed-dimensional van der Waals heterostructures." Nature Materials 16, 170 (2017).
  5. National Renewable Energy Laboratory (NREL). "Best Research-Cell Efficiency Chart." Accessed 2023. [বাহ্যিক বেঞ্চমার্ক]
  6. Wang, Q. H., et al. "Electronics and optoelectronics of two-dimensional transition metal dichalcogenides." Nature Nanotechnology 7, 699 (2012).

11. মূল বিশ্লেষণ ও বিশেষজ্ঞ মন্তব্য

মূল অন্তর্দৃষ্টি

এই গবেষণাপত্রটি শুধু আরেকটি তাত্ত্বিক সীমা গণনা নয়; এটি একটি কৌশলগত রোডম্যাপ যা টিএমডি ফটোভোলটেইক্সের জন্য অতি-পাতলা "গোল্ডিলকস জোন" চিহ্নিত করে। লেখকরা যুক্তি দিয়ে দেখান যে ~৫০ nm পুরুত্বে উচ্চ শোষণ এবং নিয়ন্ত্রণযোগ্য পুনর্মিলনের অনন্য সমন্বয় হল মূল পার্থক্যকারী, শুধু কাঁচা দক্ষতা নয়। এটি বর্ণনাকে ছাদে সিলিকনের সাথে প্রতিযোগিতা থেকে নির্দিষ্ট শক্তি যেখানে মুদ্রা, এমন বাজারগুলিতে আধিপত্যের দিকে নিয়ে যায়, একটি অংশ যা বর্তমানে অবহেলিত।

যুক্তিগত প্রবাহ

যুক্তি শক্তিশালী: উপাদানের অন্তর্নিহিত আলোক সুবিধা দিয়ে শুরু করুন, বাস্তবিক শোষণ তথ্য এবং তিনটি প্রধান পুনর্মিলন হত্যাকারী অন্তর্ভুক্ত করে শকলি-কুইসার আদর্শবাদ থেকে এগিয়ে যাওয়া একটি পরিশীলিত মডেল প্রয়োগ করুন, এবং তারপর পুরুত্ব এবং ত্রুটি ঘনত্বকে পদ্ধতিগতভাবে পরিবর্তন করুন। আউটপুট হল দক্ষতার একটি স্পষ্ট, কার্যকরী কনট্যুর মানচিত্র, একটি একক সংখ্যা নয়। এই পদ্ধতিটি পারভস্কাইট সৌর কোষ মডেলিংয়ের বিবর্তনের প্রতিফলন ঘটায়, যেখানে প্রাথমিক SQ সীমা আয়নিক ত্রুটি এবং ইন্টারফেস পুনর্মিলন অন্তর্ভুক্ত করে আরও জটিল মডেলের কাছে পথ ছেড়ে দেয়, যেমন Snaith এবং Sargent গ্রুপের কাজে দেখা যায়।

শক্তি ও ত্রুটি

শক্তি: পরিমাপকৃত আলোক তথ্যের একীকরণ একটি প্রধান শক্তি, বাস্তবতায় তত্ত্বকে ভিত্তি দেয়। গুণমানের স্তর সহ এসআরএইচ পুনর্মিলনের স্পষ্ট চিকিত্সা পরীক্ষামূলক বিজ্ঞানীদের জন্য অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ নির্দেশনা প্রদান করে—এটি তাদের ঠিক বলে দেয় কোন পরামিতি ($\tau_{SRH}$) লক্ষ্য করতে হবে। ১০x নির্দিষ্ট শক্তির দাবিটি গণনা দ্বারা সমর্থিত একটি শক্তিশালী, বাজার-প্রস্তুত সাউন্ডবাইট।

ত্রুটি/বর্জন: মডেলটি সম্ভবত যোগাযোগ এবং সিরিজ রেজিস্ট্যান্স ক্ষতিকে সরলীকৃত করে, যা কম পরিবাহিতা সহ অতি-পাতলা ডিভাইসে ধ্বংসাত্মক হতে পারে। এটি টিএমডিকে একটি আদর্শ, সমজাতীয় শোষক হিসেবে বিবেচনা করে, যোগাযোগ, হেটেরোইন্টারফেস (যেমন, পরিবহন স্তরের সাথে), এবং সাবস্ট্রেট প্রভাবের গুরুত্বপূর্ণ ভূমিকা উপেক্ষা করে—যে সমস্ত ক্ষেত্রে বাস্তব ডিভাইসগুলি প্রায়ই ব্যর্থ হয়। যেমন পারভস্কাইট ক্ষেত্রটি শিখেছে (যেমন, ওকিনাওয়া ইনস্টিটিউটের স্থায়িত্ব গবেষণা থেকে), ইন্টারফেস প্রায়ই ডিভাইস। তদুপরি, "বাল্ক" (মাল্টিলেয়ার) টিএমডি বৈশিষ্ট্যের অনুমান সাবস্ট্রেট বা যোগাযোগের কাছাকাছি প্রথম কয়েকটি স্তরের জটিল এবং প্রায়ই অবনত বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্যগুলি এড়িয়ে যায়।

কার্যকরী অন্তর্দৃষ্টি

উপাদান বিজ্ঞানীদের জন্য: বার্তাটি দ্ব্যর্থহীন—ত্রুটি হ্রাসের উপর সর্বোপরি ফোকাস করুন। এসআরএইচ আয়ু বাড়ানোর ফলে দক্ষতা লাভগুলি অধ্যয়নকৃত পরিসরে ব্যান্ডগ্যাপ টিউন করার থেকে বেশি। ডিভাইস প্রকৌশলীদের জন্য: ৫০-১০০ nm সর্বোত্তম হল আপনার ডিজাইন নিয়ম। পাতলা হওয়া ভাল নয় কারণ শোষণ ক্ষতি; পুরু হওয়া অপচয়মূলক এবং ক্ষতিকর। আপনার প্রাথমিক চ্যালেঞ্জ হল এই অতি-পাতলা ফিল্মগুলির জন্য কম-প্রতিরোধ, অ-পুনর্মিলনযোগ্য যোগাযোগ ডিজাইন করা। বিনিয়োগকারী এবং কৌশলবিদদের জন্য: এই বিশ্লেষণটি ড্রোন এবং পরিধানযোগ্য ডিভাইসের মতো বিশেষ, উচ্চ-মূল্যের প্রয়োগের জন্য টিএমডি PV প্রস্তাবের ঝুঁকি হ্রাস করে। >২৫% দক্ষতার পথটি স্পষ্ট (ভাল উপাদান), এবং ১০x ওজন সুবিধাটি বিদ্যমান প্রযুক্তির বিরুদ্ধে একটি রক্ষণযোগ্য পরিখা। অবিলম্বে R&D ফোকাস হওয়া উচিত মডেল করা পুরুত্ব সহ একটি একক, cm-স্কেল কোষে >২০% দক্ষতা প্রদর্শন করা, যা একটি যুগান্তকারী মুহূর্ত হবে, যেমন যখন পারভস্কাইট কোষ প্রথম ২০% অতিক্রম করেছিল।